Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM) JEOL GmbH JSM-7800F Prime (SEM) FE REM

Informationen

Name:	Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM)
Hersteller:	JEOL GmbH
Modell:	JSM-7800F Prime (SEM) FE REM
Einrichtung:	Kompetenzfeld Werkstoffcharakterisierung und -prüfung
Partner:	Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik (IWS)

Ultrahochauflösendes analytisches Feldemissionsrasterelektronenmikroskop

Ausstattung / Technische Daten
- Emission: In-lens-thermische-Feldemissionselektronenkathode
- Beschleunigungsspannungen: 10 V bis 30 kV
- Auflösung: 0,7 nm (bis zu 1kV)
- Detektoren: in-lens SE und BSE, hochauflösender BSE-Detektor, STEM
- Zusätzlicher „Gentle-Beam-Super-High (GBSH)“ – Modus zur Reduzierung der Linsenaberrationen
- Zusatzausstattung: energiedispersive und wellenlängendispersive Röntgenanalyse (EDX und WDX) von Oxford Instruments
Methoden
- Abbildung und Analyse nanoskaliger Strukturdetails
- Abbildung und Analyse magnetischer Proben bei niedriger Beschleunigungsspannung
- Abbildung dünner, elektronentransparenter Proben im STEM- Modus
- Ermittlung der chemischen Zusammensetzung, einschließlich leichter Elemente (B, C, N, O)

Dieses Gerät wird im Rahmen einer Dienstleistung oder Forschungsleistung (Kooperation) verwendet.

Prof. Dr. Martina Zimmermann

Web:

Telefon:

+49 351 83391-3573

Name	Vorschau	Aktionen
Entwicklung und Bewertung von prozess- und anwendungsspezifischen Prüfstrategien
Versagens- und Schadensfallanalysen
Hochauflösende, abbildende und analytische Charakterisierung von lasermodifizierten Randzonen, Fügegrenzflächen, Dünnschichtsystemen, Nanotubes und Nanopartikeln
Produktbegleitende Qualitätssicherung
Metallographische, elektronenmikroskopische und mikroanalytische Charakterisierung der Realstruktur von Metallen, Keramiken und Verbundwerkstoffen

Vorschau	Beschreibung
Quelle: Fraunhofer IWS	Ultrahochauflösendes analytisches Feldemissionsrasterelektronenmikroskop - JEOL JSM-7800F Prime

Zuletzt aktualisiert am: 5. August 2019 um 10:21:21