Atomic Force Microscope (AFM) / Rasterkraftmikroskop (RKM) TopoMetrix Explorer
Basic Information
Name: | Atomic Force Microscope (AFM) / Rasterkraftmikroskop (RKM) | |
Manufacturer: | TopoMetrix | |
Model: | Explorer | |
Facility: | Ceramography and Phase Analysis | |
Partner: | Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems (IKTS) |
Description
Das Atomic Force Microscope (AFM), auch als Rasterkraftmikroskop (RKM) bekannt, ist ein Typ des Rastersondenmikroskops (Scanning Probe Microscope - SPM).
Messgröße:
Topographie der Oberflächen bis in den Nanometerbereich
Messbreich:
max. 100μm x 100μm x 10μm
Points of Contact
Dr. Sören Höhn / Dipl.-Phys. Jochen Mürbe
Web:
Phone:
+49 351 2553-7527
Fax:
+49 351 2554-122
Images
Last Update
Last updated at: 13 July 2017 at 11:54:15