Dresden
Technology Portal

 
Your access to research infrastructure and know-how
de|en
View all instruments of this unit

Atomic Force Microscope (AFM) / Rasterkraftmikroskop (RKM) TopoMetrix Explorer

Basic Information

Name: Atomic Force Microscope (AFM) / Rasterkraftmikroskop (RKM)
Manufacturer: TopoMetrix
Model: Explorer
Facility: Ceramography and Phase Analysis
Partner: Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems (IKTS)

Description

Das Atomic Force Microscope (AFM), auch als Rasterkraftmikroskop (RKM) bekannt, ist ein Typ des Rastersondenmikroskops (Scanning Probe Microscope - SPM).

 

Messgröße:

Topographie der Oberflächen bis in den Nanometerbereich

Messbreich:

max. 100μm x 100μm x 10μm

Points of Contact

Dr. Sören Höhn / Dipl.-Phys. Jochen Mürbe
Phone:
+49 351 2553-7527
Fax:
+49 351 2554-122

Images

Last Update

Last updated at: 13 July 2017 at 11:54:15