Alle Dienstleistungen dieser Einrichtung anzeigen Pruefung von Wafern
Informationen
| Name: | Pruefung von Wafern | |
| Einrichtung: | 200 mm MEMS-Reinraum | |
| Partner: | Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (IPMS) |
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Beschreibung
Electrical testing of wafers is performed after the fabrication process to ensure the functionality and reliability of the integrated circuits. This testing involves using specialized equipment to measure electrical parameters and identify any defects or variations that could affect the performance of the final devices. We offer for example mixed signal Testing, parametric Test System and electro-optical Test System.
Arten der Dienstleistung
- Die Dienstleistung wird als eine Standard- bzw. Routineleistung ohne Forschungsanteil erbracht.
- Die Leistung wird als eine Forschungsleistung z.B. zur Methodenentwicklung, -Weiterentwicklung oder im Rahmen einer Forschungskooperation erbracht.
Ansprechpartner
Zugeordnete Geräte
Letztes Update
Zuletzt aktualisiert am: 14. Januar 2025 um 15:45:19